本文比較了兩種主流的光學薄膜厚度量測技術——顯微分光法和橢圓偏光法。文章深入探討了兩者的原理、優缺點、適用場景，並提供實用的選擇策略和應用案例，旨在幫助讀者根據具體需求，做出最有效的技術選擇。

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日本光學檢測儀器大塚電子在台子公司
利用光學的技術，我們的使命是提供具有尖端技術的解決方案。產品包括光學膜厚量測、粒徑界達電位量測、高感度光譜儀等尖端技術。