新特
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在 2026 年全球半導體產業鏈中，測試介面（Test Interface）已從過往的耗材定位，演進為決定晶片良率與傳輸品質的核心技術環節。隨著 AI 運算力從雲端滲透至邊緣裝置，以及車用顯示器邁向大尺寸與高解析度化，測試端的挑戰已不再僅止於物理接觸，而是如何在高頻、高速且極小間距的環境下維持訊
