何謂動態光散射(DLS)
動態光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）是一種 高精度且非破壞性 的奈米粒徑測量技術。DLS 透過偵測 懸浮液或膠體中的粒子布朗運動，並分析散射光強度的變化來計算粒徑大小。這項技術特別適用於 奈米級（1nm～數微米） 的粒徑分佈測量，廣泛應用於 藥物開發、生物技術、材料科學及奈米科技 等領域。
DLS 為何是奈米粒徑量測的最佳選擇？
✅ 高靈敏度：可偵測 1nm 以下的超細奈米顆粒
✅ 非破壞性：不影響樣品特性，適用於生物與藥物樣品
✅ 高效率：測量快速，通常1分鐘內可獲得結果
✅ 適用於寬廣的濃度範圍：可分析稀溶液與高濃度樣品
透過 DLS 技術，研究人員能夠精確掌握奈米粒子的分佈與穩定性，進而優化產品配方，提升研究與製造效率。無論是藥物傳輸系統、蛋白質聚集分析，還是新型材料的開發，DLS 都是不可或缺的強大工具。
動態光散射(DLS)原理概要說明
溶液中的粒子會依據粒徑大小產生不同程度的布朗運動。
小粒子的布朗運動較快，大粒子則反之。
DLS量測布朗運動
當光照射在這些粒子上會產生散射光，小粒子的散射光強會劇烈變動，大粒子則會緩慢變化。
利用這些變化波動，可量測溶液中粒子的大小。
DLS量測布朗運動
動態光散射與其他粒徑分析方法比較
DLS方法主要應用粒徑範圍為奈米等級~跨到一些微米等級的粒徑分析，量測簡便快速。
更多與其他方法比較可以參考文章。
動態光散射的粒徑分析結果
使用動態光散射後，會得到許多描述該結果的平均粒徑、粒徑分佈、D50...等等結果，每一種結果都有自己代表的意思。
如何看懂一份動態光散射量測結果報告，詳細看法可參考文章。
📖粒徑分佈圖怎麼看？完整解讀定義與曲線，明白技術運用在哪裡！→
DLS量測高濃度粒徑分析
粒徑量測為何需要稀釋？
傳統粒徑分析儀多數採用 90 度角光散射技術，適用於 透明或透光樣品，但對於如 油墨、碳黑、顏料 等不透光樣品，則必須進行 高倍率稀釋 才能測量。然而，稀釋過程除了可能產生 人為誤差，更關鍵的是 無法真實反映樣品在實際使用環境下的特性，影響測試結果的準確性。
不需要稀釋量測DLS
不稀釋的粒徑量測：大塚電子的技術突破
大塚電子率先採用 背向光散射技術（Backscattering Technology），搭載 自動掃描最佳量測位置，突破傳統 90 度角光散射的限制。
且與市面上其他背向光散射技術相比，大塚電子的技術能測量 更高濃度、更深色的樣品，大幅提升應用範圍。
在過去，僅能測量經過 高度稀釋 的樣品，如圖所示，當不同顏色的墨水進行不同倍率的稀釋時，粒徑結果會發生變化。因此，僅測量稀釋後的樣品，無法真實反映 實際使用或儲存時的粒徑分佈，影響產品穩定性與性能預測。
DLS量測機台推薦
DLS機台推薦
大塚電子從1970年起，發家的第一個商用化產品就是動態光散射(光子相關器)，在後來也推出複合界達電位(zeta potential)的奈米粒徑分析儀，率先將背向光散射商用化量測不透光的粒徑分析方法，以及提供固體樣品的表面電位量測等等。於半個世紀後，我們集結了所有技術推出最新型界達電位粒徑分析儀ELSZneo。以neo期許新生之意，希望能帶給客戶更多的感動。
👉立即洽詢DLS最佳推薦機台->
影片解說版本
